|
|
Herzlich
Willkommen!
DFG
Schwerpunktprogramm 1159
Neue
Strategien der Mess- und Prüftechnik für die
Produktion von Mikrosystemen und Nanostrukturen
Koordinator:
Prof.
Dr.-Ing. Dr.-Ing. E.h. Dr. h.c. mult. A. Weckenmann
Laufzeit:
2004 - 2010
Thematisches
Ziel:
Ziel des
Programms ist das Bereitstellen
von neuen Strategien und Methoden für die funktionsorientierte
Definition von Kenngrößen, die zielgerechte Auswahl
des wirtschaftlich
und technisch angemessenen Messverfahrens, den Ablauf der Messung, die
Berücksichtigung wirkender Einflüsse bis hin zur
Darstellung der
Messergebnisse für die Anwendung in der industriellen
Fertigung.
Eingeschlossen sind Kalibrierverfahren und werkstattgerechte Normale.
Damit können verfügbare Messverfahren in der
Produktion von
Mikrosystemen und Präzisionsbauteilen mit Nanostrukturen so
eingesetzt
werden, dass Mess- und Prüfverfahren einheitlich vereinbart
werden
können und rückführbare Ergebnisse ermittelt
werden. In den Projekten
des Schwerpunkts sollen Grundsätze, Prinzipien und Regeln
für
Messgrößendefinitionen, Messabläufe und
Gestaltung von Elementen der
prüftechnischen Kette erforscht und die Ergebnisse in
anwendungsgerechten Tests verifiziert werden.
|
|
|
|